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詳細摘要： 一、概述材料的熱導(dǎo)率是研究材料物理性能的一個重要參數(shù)指標(biāo)，在航空、原子能、建筑材料，非金屬材料等工業(yè)部門都要求對有關(guān)材料的熱導(dǎo)率，進行預(yù)測或?qū)嶋H測定。其測試方法...

詳細摘要： 該系列儀器用于測試定形隔熱耐火制品，粉狀料等材料的導(dǎo)熱系數(shù)，非金屬固體材料導(dǎo)熱系數(shù)，參考標(biāo)準(zhǔn)：GB5990-86《定形隔熱耐火制品導(dǎo)熱系數(shù)試驗方法(熱線法)》。

詳細摘要： 采用針型探頭，在測試時用戶僅需將傳感器插入被測試樣內(nèi)部就可直接獲取導(dǎo)熱系數(shù)參數(shù)，適用于高粘流體、膠狀食品、顆粒、粉末等材料的導(dǎo)熱系數(shù)測量， 在土壤測試和地質(zhì)勘探...

詳細摘要： DRL-III導(dǎo)熱儀主要測試薄的熱導(dǎo)體、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱樹脂、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等陶瓷導(dǎo)熱系數(shù)測定。

詳細摘要： BRR-3系列全自動比熱容測試儀符合GJB 330A-2000標(biāo)準(zhǔn)要求，客戶根據(jù)不同溫度范圍的測試要求選擇低溫，常溫，中溫，高溫等不同的規(guī)格。

詳細摘要： 材料的熱導(dǎo)率是研究材料物理性能的一個重要參數(shù)指標(biāo)，在航空、原子能、建筑材料，非金屬材料等工業(yè)部門都要求對有關(guān)材料的熱導(dǎo)率，進行預(yù)測或?qū)嶋H測定。

詳細摘要： 材料的熱導(dǎo)率是研究材料物理性能的一個重要參數(shù)指標(biāo)，在航空、原子能、建筑材料，非金屬材料等工業(yè)部門都要求對有關(guān)材料的熱導(dǎo)率，進行預(yù)測或?qū)嶋H測定。

詳細摘要： 主要測量固體、巖土、粉末、液體、糊狀、涂層、薄膜、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)、導(dǎo)溫系數(shù)（熱擴散系數(shù)）和比熱、蓄熱系數(shù)及熱阻。

詳細摘要： 本儀器測試方法基于“恒功率平面熱源法“?？捎糜跍y試導(dǎo)熱系數(shù)和導(dǎo)溫系數(shù)。

詳細摘要： 產(chǎn)品依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：ISO12987-2000 YS/T63.3-2006，用于碳素材料熱導(dǎo)率的測試。??主要技術(shù)指標(biāo)：儀器由熱板及其功率調(diào)整系統(tǒng)、冷板及其恒溫系統(tǒng)、...

詳細摘要： 主要測試耐火材料，耐火陶瓷纖維制品，隔熱磚及隔熱板等耐火制品低導(dǎo)熱系數(shù)耐火材料，粉狀材料等的導(dǎo)熱系數(shù)。

詳細摘要： 主要測試流體，飽和液相物質(zhì)，氣體除稀薄氣體的導(dǎo)溫，導(dǎo)熱等熱物性參數(shù)。用于這些新型原料在室溫-300度范圍導(dǎo)熱系數(shù)，導(dǎo)溫系數(shù)，傳熱性能研究。低溫狀態(tài)可定制特殊裝置...

詳細摘要： 該導(dǎo)熱系數(shù)儀采用熱流法測量不同類型材料的熱導(dǎo)率、熱擴散率以及熱熔。

詳細摘要： 主要測試塑料，玻璃，纖維，泡沫等材料的導(dǎo)熱系數(shù)。儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T3392-82《塑料導(dǎo)熱系數(shù)試驗方法，護熱平板法》。

詳細摘要： 該儀器按照GB/T 10294-2008/ISO 8302：1991（絕熱材料穩(wěn)態(tài)熱阻及有關(guān)特性的測定-防護熱板法）設(shè)計制造。全部測量和控制均采用計算機控制，減...

詳細摘要： 該方法適應(yīng)對常溫下硫化和未硫化橡膠熱導(dǎo)率的測定。但不適用于吸水橡膠和含金屬粉末的橡膠的導(dǎo)熱系數(shù)測定，采用瞬態(tài)熱絲法測定其導(dǎo)熱系數(shù)參考標(biāo)準(zhǔn)

詳細摘要： 該儀器基于縱向熱流法的原理，主要測試導(dǎo)電物體在高溫時導(dǎo)熱系數(shù)，適應(yīng)于金屬材料銅，不銹鋼材料等導(dǎo)電材料，非金屬導(dǎo)電材料石墨等的導(dǎo)熱系數(shù)，傳熱性能的研究。

詳細摘要： 該導(dǎo)熱系數(shù)儀基于縱向熱流技術(shù)，具有方便、快捷、精確的特點，可用來測量各種不同類型材料的熱導(dǎo)率、熱擴散率以及熱熔，適用的熱導(dǎo)系數(shù)范圍0.5-100W/MK之間

詳細摘要： 該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時，同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量須在薄膜狀態(tài)下進行。